| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Conferința "Engineering Thin Films with Ion Beams, Nanoscale Diagnostics, and Molecular Manufacturing", 1
San Diego, Statele Unite ale Americii, 30-31 iulie 2001
Organizatori: SPIE - The International Society for Optics and Photonics, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Washington
Factor de impact CiteScore 2022 - 0.7
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volum, serie, parte, nr: Vol.4468
Locul publicării: Bellingham, Washington
Editura: SPIE
Anul publicării: 2001
Numărul de pagini: 192
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819441829
ISBN: 0819441821
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
4Disponibil în IBN: 2 februarie 2024
Vizualizări
87Descărcări
0
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Ştiinţe fizico-matematice (109)Tehnică (198)Chimie (9)Medicină (2)
