A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Conferința "Optical Diagnostics of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics", 1
Moscow, Rusia, 1 aprilie 2003
Organizatori: SPIE - The International Society for Optics and Photonics, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Washington, Институт физики полупроводников им. Ржанова, Новосибирск, V.E. Lashkaryov Institute of Semiconductor Physics of the National Academy of Science of Ukraine
Factor de impact CiteScore 2022 - 0.7
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volum, serie, parte, nr: Vol.5024
Locul publicării: Bellingham, Washington
Editura: SPIE
Anul publicării: 2003
Numărul de pagini: 230
ISSN: 0277-786X
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
Disponibil în IBN: 30 ianuarie 2024
Vizualizări
111Descărcări
0
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Ştiinţe fizico-matematice (109)Tehnică (198)Chimie (9)Medicină (2)