| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Conferința "Tenth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors" DRIP X, 10
Batz-sur-Mer, Franța, 29 septembrie - 2 octombrie 2003
Factor de impact CiteScore 2022 - 1.9
Factor de impact SJR 2022 - 0.251
Factor de impact SNIP 2022 - 0.6
Factor de impact SJR 2022 - 0.251
Factor de impact SNIP 2022 - 0.6
EPJ Applied Physics
Volum, serie, parte, nr: Vol. 27, Ediția 1-3
Locul publicării: Les Ulis
Editura: EDP Sciences
Anul publicării: 2004
Numărul de pagini: 350
ISSN: 12860042
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
1Disponibil în IBN: 30 ianuarie 2024
Vizualizări
113Descărcări
0
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Ştiinţe fizico-matematice (1)Tehnică (1)
