| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Simpozionul "Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology", 2
Seattle, WA, Statele Unite ale Americii, 9 iulie 2002
Organizatori: SPIE - The International Society for Optics and Photonics, Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Washington
Factor de impact CiteScore 2022 - 0.7
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Factor de impact SJR 2022 - 0.166
Factor de impact SNIP 2022 - 0.235
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volum, serie, parte, nr: Ediția 2, Vol.4780
Locul publicării: Bellingham, Washington
Editura: SPIE
Anul publicării: 2002
Numărul de pagini: 186
ISSN: 0277-786X
ISBN: 9780819445476
ISBN: 0819445479
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
4Disponibil în IBN: 1 februarie 2024
Vizualizări
95Descărcări
0
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Ştiinţe fizico-matematice (109)Tehnică (198)Chimie (9)Medicină (2)
