IBN
Închide
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională >
Caracteristica articolelor >
Limba de publicare >
Ultima descărcare din IBN:
2021-09-15 04:19
Vizibilitatea autorilor >

Numere înregistrate

  2021  (1 din 1)1
  2019  (1 din 1)1
  2018  (1 din 1)1
  2016  (1 din 1)1
imagine

pISSN: 1369-8001
Materials Science in Semiconductor Processing

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2016 - 2021
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateDOI
Articole4241284
Volume4165554
Total8406762

Vizualizări   299Descărcări   19

Conţinutul numărului de revistă

Crystallinity and optical properties of β-Ga2O3/Ga2S3 layered structure obtained by thermal annealing of Ga2S3 semiconductor

0-0

DOI: 10.1016/j.mssp.2020.105314

Sprînceanu Veaceslav, Lupan Oleg, Caraman Iuliana, Untila Dumitru, Postica Vasilie, Cojocaru Ala, Gapeeva Anna, Palachi Leonid, Adelung Rainer, Tiginyanu Ion, Caraman Mihail