IBN
Închide
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională >
Caracteristica articolelor >
Limba de publicare >
Ultima descărcare din IBN:
2019-02-13 14:45
Vizibilitatea autorilor >

Numere înregistrate

  2019  (1 din )1
  2018  (1 din )1
  2016  (1 din )1
imagine

pISSN: 1369-8001
Materials Science in Semiconductor Processing

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2016 - 2019
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateDOI
Articole366183
Volume34678
Total6112816

Vizualizări   183Descărcări   5

Conţinutul numărului de revistă

Ultra-thin TiO2 films by atomic layer deposition and surface functionalization with Au nanodots for sensing applications

44-53

DOI: 10.1016/j.mssp.2018.06.031

Lupan Oleg, Postica Vasilie, Ababii Nicolai, Reimer Tim, Shree Sindu, Hoppe Mathias, Polonskyi Oleksandr, Şontea Victor, Chemnitz Steffen, Faupel Franz, Adelung Rainer