IBN
Закрыть
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Acces la textul integral
Anul fondării  1998
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Ultima descărcare din IBN:
2022-12-21 14:43
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Vol. 172 / / 2024  (1 din 1)1    
 2024  (1 din 1)1    
Vol. 172 1
 2021  (1 din 12)1    
Vol. 121 1CZU
 2019  (1 din 12)1    
Vol. 100 1
 2018  (1 din 12)1    
Vol. 87 1
 2016  (2 din 12)2    
Vol. 49 1
Vol. 43 1
 2014  (1 din 12)1    
Vol. 26, i1 1
imagine

pISSN: 1369-8001
eISSN: 1873-4081
Materials Science in Semiconductor Processing
Factor de impact CiteScore 2022 - 7
Factor de impact SJR 2022 - 0.688
Factor de impact SNIP 2022 - 1.014

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2014 - 2024
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateCZUDOI
Articole747111017
Volume7321968
Total14793078

Vizualizări   885Descărcări   16

Conţinutul numărului de revistă

Ultra-thin TiO2 films by atomic layer deposition and surface functionalization with Au nanodots for sensing applications 44-53

DOI: 10.1016/j.mssp.2018.06.031

Lupan Oleg , Postica Vasile , Ababii Nicolai , Reimer Tim , Shree Sindu , Hoppe Mathias , Polonskyi Oleksandr , Shontya Viktor , Chemnitz Steffen , Faupel Franz , Adelung Rainer