IBN
Închide
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Acces la textul integral
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Vol. 72 / i1 / 2024  (1 din 1)1    
 2024  (1 din 1)1    
Vol. 72, i1 1
 2022  (4 din 1)4    
Nr. 4(70) 1
Nr. 3(70) 1
Nr. 2(70) 1
Nr. 1(70) 1
 2021  (2 din 1)3    
Nr. 2(69) 2
Nr. 1(69) 1
 2020  (1 din 1)2    
Nr. 4(68) 2
 2019  (3 din 4)3    
Nr. 4(67) 1
Nr. 3(67) 1
Nr. 2(67) 1
 2018  (1 din 4)2    
Nr. 2(66) 2
 2017  (3 din 4)5    
Nr. 4(65) 1
Nr. 3(65) 2
Nr. 1(65) 2
 2016  (3 din 4)6    
Nr. 4(64) 3
Nr. 2(64) 2
Nr. 1(64) 1
 2015  (1 din 4)1    
Vol. 63, i3 1
 2014  (2 din 4)2    
Vol. 62, i2 1
Vol. 62, i1 1
 2013  (2 din 4)3    
Vol. 61, i3 1
Vol. 61, i1 2
 2012  (1 din 4)1    
Vol. 60, i3 1
imagine

eISSN: 1582-5175
EEA - Electrotehnica, Electronica, Automatica
Factor de impact CiteScore 2022 - 1
Factor de impact SJR 2022 - 0.138
Factor de impact SNIP 2022 - 0.179

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2012 - 2024
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateDOI
Articole331678915710
Volume245158162
Total5721947319

Vizualizări   39

Conţinutul numărului de revistă

MEMS-based devices relevant failure modes and mechanisms 16-20
Băjenescu Titu-Marius