IBN
Închide
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Acces la textul integral
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Ultima descărcare din IBN:
2021-09-15 04:19
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Nr. 4 / 2022  (4 din 1)1    
 2022  (4 din 1)4    
Nr. 4(70) 1
Nr. 3(70) 1
Nr. 2(70) 1
Nr. 1(70) 1
 2021  (2 din 1)3    
Nr. 2(69) 2
Nr. 1(69) 1
 2020  (1 din 1)2    
Nr. 4(68) 2
 2019  (3 din 4)3    
Nr. 4(67) 1
Nr. 3(67) 1
Nr. 2(67) 1
 2018  (1 din 4)2    
Nr. 2(66) 2
 2017  (3 din 4)5    
Nr. 4(65) 1
Nr. 3(65) 2
Nr. 1(65) 2
 2016  (3 din 4)6    
Nr. 4(64) 3
Nr. 2(64) 2
Nr. 1(64) 1
 2015  (1 din 4)1    
Vol. 63, i3 1
 2014  (2 din 4)2    
Vol. 62, i2 1
Vol. 62, i1 1
 2013  (2 din 4)3    
Vol. 61, i3 1
Vol. 61, i1 2
 2012  (1 din 4)1    
Vol. 60, i3 1
imagine

eISSN: 1582-5175
EEA - Electrotehnica, Electronica, Automatica
Factor de impact CiteScore 2022 - 1
Factor de impact SJR 2022 - 0.138
Factor de impact SNIP 2022 - 0.179

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2012 - 2022
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateDOI
Articole32114151349
Volume234887162
Total5516302296

Vizualizări   247Descărcări   12

Conţinutul numărului de revistă

Reliability problems of micro-electronic encapsulations 74-80

DOI: 10.46904/EEA.21.69.1.1108009

Băjenescu Titu-Marius