Tulpini autohtone de bacterii lactice perspective pentru fabricarea smântânii

Rudic Valeriu; Svets S

Despre revistă

Domenii de acreditare

Domenii ştiinţifice

Acces la textul integral

Tirajul revistei

Vizibilitate internațională

Caracteristica articolelor

Limba de publicare

Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

Vol. 72 / i1 / 2024 (1 din 1)

Arhiva revistei

2024 (1 din 1)

Vol. 72, i1

2022 (4 din 1)

Nr. 4(70)		1
Nr. 3(70)		1
Nr. 2(70)		1
Nr. 1(70)		1

2021 (2 din 1)

Nr. 2(69)		2
Nr. 1(69)		1

2020 (1 din 1)

Nr. 4(68)

2019 (3 din 4)

Nr. 4(67)		1
Nr. 3(67)		1
Nr. 2(67)		1

2018 (1 din 4)

Nr. 2(66)

2017 (3 din 4)

Nr. 4(65)		1
Nr. 3(65)		2
Nr. 1(65)		2

2016 (3 din 4)

Nr. 4(64)		3
Nr. 2(64)		2
Nr. 1(64)		1

2015 (1 din 4)

Vol. 63, i3

2014 (2 din 4)

Vol. 62, i2		1
Vol. 62, i1		1

2013 (2 din 4)

Vol. 61, i3		1
Vol. 61, i1		2

2012 (1 din 4)

Vol. 60, i3

eISSN: 1582-5175

EEA - Electrotehnica, Electronica, Automatica

Factor de impact CiteScore 2022 - 1

Factor de impact SJR 2022 - 0.138

Factor de impact SNIP 2022 - 0.179

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.

Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.

Disponibil în IBN pentru perioada:

2012 - 2024

Clasificate
	Înregistrate	Accesate	Descărcate	DOI
Articole	33	16770	157	10
Volume	24	5155	162
Total	57	21925	319

Vol. 62, i2 / 2014 Disponibil în IBN: 08.02.2024
Vizualizări 33

Conţinutul numărului de revistă

Grand challenges and relevant failure mechanisms of nanoelectronic devices		39-44

Băjenescu Titu-Marius

Articole ştiinţifice în:		Rezumate în:
Engleza	113	Engleza	91
Romana	2	Romana
Franceza	1	Franceza