IBN
Închide
Căutare avansată
Site Map
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ
Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Anul fondării  2008
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Ultima descărcare din IBN:
2021-09-15 04:19
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Nr. 11-12 / 2022  (1 din 12)1    
 2022  (1 din 12)1    
Nr. 11-12(16)1
 2021  (1 din 12)1    
Nr. 9-10(15)1
 2020  (2 din 12)2    
Nr. 9-10(14)1
Nr. 7-8(14)1
 2019  (1 din 6)1    
Nr. 9-10(13)1
 2018  (2 din 6)2    
Nr. 9-10(12)1
Nr. 7-8(12)1
 2015  (1 din 6)1    
Vol. 9, nr. 7-81
imagine

pISSN: 1842-6573
eISSN: 2065-3824
Optoelectronics and Advanced Materials, Rapid Communications
Pagina web: https://oam-rc.inoe.ro/

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2015 - 2022
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcate
Articole837100
Volume8263670
Total16634670

Vizualizări   487Descărcări   11

Conţinutul numărului de revistă
Electron-beam recording of the diffraction gratings in the (As4S3Se3)1-xSnx amorphous thin films 377-380
Yovu M. , Sergeev Sergei , Iaseniuc Oxana
Share

Institutul de Dezvoltare a Societatii InformationaleEXPERT on-lineInstitutul de Dezvoltare a Societatii InformationaleCN-2022Indicatori CDIASM

CC-BY-NC

Copyright © 2012 - 2024 Instrument Bibliometric National

Institutul de Dezvoltare a Societatii Informationale All Rights Reserved.

IBN v1.5.5

CSS valid!