Articolul precedent |
Articolul urmator |
335 360 |
Ultima descărcare din IBN: 2024-01-06 20:13 |
SM ISO690:2012 СЕРЖЕНТУ, Владимир. Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями. In: Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»: (МССЭ-2020), 14-16 octombrie 2020, Minsk. Minsk, Belorusia : Белорусский государственный университет, 2020, Ediția a 9-a, pp. 463-467. ISBN 978-985-881-073-3. |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники» Ediția a 9-a, 2020 |
||||||
Conferința "Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»" Minsk, Belarus, 14-16 octombrie 2020 | ||||||
|
||||||
Pag. 463-467 | ||||||
|
||||||
Descarcă PDF | ||||||
Rezumat | ||||||
Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние. |
||||||
Cuvinte-cheie обратное рассеяние, индикатриса рассеяния, поверхностные неровности, асимптотический метод, retroreflection, Scattering indicatrix, surface roughness, asymptotic method |
||||||
|
Dublin Core Export
<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?> <oai_dc:dc xmlns:dc='http://purl.org/dc/elements/1.1/' xmlns:oai_dc='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd'> <dc:creator>Sergentu, V.V.</dc:creator> <dc:date>2020</dc:date> <dc:description xml:lang='ru'><p>Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние.</p></dc:description> <dc:description xml:lang='en'><p>A method of evaluation the scattering indicatrix on the superconductor surface with extremely large surface roughness is considered. Roughness are described by a Gaussian distribution function for surface slopes. It is shown that with an increase in the root mean square value of the slopes the scattering indicatrix changes from diffuse to Lampert distribution. The transition is of a threshold nature. There is little retroreflection near the threshold.</p></dc:description> <dc:source>Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники» (Ediția a 9-a) 463-467</dc:source> <dc:subject>обратное рассеяние</dc:subject> <dc:subject>индикатриса рассеяния</dc:subject> <dc:subject>поверхностные неровности</dc:subject> <dc:subject>асимптотический метод</dc:subject> <dc:subject>retroreflection</dc:subject> <dc:subject>Scattering indicatrix</dc:subject> <dc:subject>surface roughness</dc:subject> <dc:subject>asymptotic method</dc:subject> <dc:title>Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями</dc:title> <dc:type>info:eu-repo/semantics/article</dc:type> </oai_dc:dc>