Articolul precedent |
Articolul urmator |
338 360 |
Ultima descărcare din IBN: 2024-01-06 20:13 |
SM ISO690:2012 СЕРЖЕНТУ, Владимир. Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями. In: Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»: (МССЭ-2020), 14-16 octombrie 2020, Minsk. Minsk, Belorusia : Белорусский государственный университет, 2020, Ediția a 9-a, pp. 463-467. ISBN 978-985-881-073-3. |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники» Ediția a 9-a, 2020 |
||||||
Conferința "Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»" Minsk, Belarus, 14-16 octombrie 2020 | ||||||
|
||||||
Pag. 463-467 | ||||||
|
||||||
Descarcă PDF | ||||||
Rezumat | ||||||
Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние. |
||||||
Cuvinte-cheie обратное рассеяние, индикатриса рассеяния, поверхностные неровности, асимптотический метод, retroreflection, Scattering indicatrix, surface roughness, asymptotic method |
||||||
|
Crossref XML Export
<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?> <doi_batch version='4.3.7' xmlns='http://www.crossref.org/schema/4.3.7' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.crossref.org/schema/4.3.7 http://www.crossref.org/schema/deposit/crossref4.3.7.xsd'> <head> <doi_batch_id>ibn-147873</doi_batch_id> <timestamp>1714287284</timestamp> <depositor> <depositor_name>Information Society Development Instiute, Republic of Moldova</depositor_name> <email_address>idsi@asm.md</email_address> </depositor> </head> <body> <collection> <collection_metadata> <full_title>Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»</full_title> </collection_metadata> <collection_issue> <publication_date media_type='print'> <year>2020</year> </publication_date> <isbn>978-985-881-073-3</isbn> </collection_issue> <collection_article publication_type='full_text'><titles> <title>Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями</title> </titles> <contributors> <person_name sequence='first' contributor_role='author'> <given_name>Vladimir</given_name> <surname>Sergentu</surname> </person_name> </contributors> <publication_date media_type='print'> <year>2020</year> </publication_date> <pages> <first_page>463</first_page> <last_page>467</last_page> </pages> </collection_article> </collection> </body> </doi_batch>