S.P 50 Сравнителный анализ термоэдс и термомагнитных свойств в е- и g-облученных Cdx Hg1-x Te
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
242 0
SM ISO690:2012
ЗУЛЬФИГАРОВ, Э., МАГЕРРАМОВ, Ариф. S.P 50 Сравнителный анализ термоэдс и термомагнитных свойств в е- и g-облученных Cdx Hg1-x Te. In: Materials Science and Condensed Matter Physics, 13-17 septembrie 2010, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: Institutul de Fizică Aplicată, 2010, Editia 5, p. 326.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Materials Science and Condensed Matter Physics
Editia 5, 2010
Conferința "Materials Science and Condensed Matter Physics"
Chișinău, Moldova, 13-17 septembrie 2010

S.P 50 Сравнителный анализ термоэдс и термомагнитных свойств в е- и g-облученных Cdx Hg1-x Te


Pag. 326-326

Зульфигаров Э.1, Магеррамов Ариф2
 
1 Университет Кооперации Азербайджана,
 
 
Disponibil în IBN: 23 aprilie 2021


Rezumat

Радиационные эффекты в различныхдетекторах на основе КРТ,сопоставительные излучения особенностей образования и гибели электроактивных дефектов в них при различных видах воздействия ионизирующих излучений(е- и g-излучений, флюенцы,и т.п.) позволили бы получать уточненных данных по изменению кинетических параметров в этих материалах. Важное значение имеет оценка радиационной стойкости детекторов на основе узкозонных полупроводников, изучение особенностей модифицирования структуры и природы наведенных дефектов и тем самым прогнозировать путей улучшения характеристик приборов на основе КРТ. Особое значение имеет сопоставительные изучение термоэдс и термомагнитных явлений, основанных на эффекте Нернста— Эттингсгаузена. В этой связи нами проведены подобные исследования на примере образцов Cd0,15 Hg0,85Te Показано, что как при е- облучении, так и при g-воздействии наблюдается снижение значений, термоэдс причем более заметно это происходит при g-облучении. Кроме того, в обоих видах воздействия обнаруживается смещение температурных значений точек инверсии знака термоэдс на 34К, а также положений максимума a0 при Т=25К на зависимостях a0(Т) в область низких температур на 10 градусов. Надо отметить что, максимум на зависимостях a0Т обусловлен с условием равновесией |a|»|aр| и при облучении возрастает число наведенных носителей (электронов). При условии же |an|>|ap| из-за sp>>sn в термоэдс доминирует дырки. Воздействия g-облучения при низких температурах приводит к изменению числа рассеивающих центров. Эти центры, по видимому являются донорными и обусловлены вакансией атомов Те. Изучение влияние е- и g-облучения на изменение полевых зависимостей магнитотермоэдс aн при разных температурах показывает что при Т=200К у не облученных образцов aн=0, а после е— облучение уменьшается величина aн магнитотермоэдс. При Т³200К, из-за увеличения концентраций электронов величина aн изменяется аналогично термоэдс a0. Характерным является то, что поведение aн при Т=100К и при слабых польях (Н£ 1,5кЭ) величина магнитотермоэдс меньше значений для исходного образца.Также показано что, у. Из сопоставлений этих результатов aн(Н,Т) g-облученных образцов Сd0,15Hg0,85Те следует, что некоторое различие на полевых зависимостях наблюдается только при больших значениях магнитного поля ( Н³ 1,5 кЭ), а характер изменения aн (Т) сохраняется. Установлено, что g-облучение изменяет лишь концентрацию носителей зарядов. Полученные разультаты по влиянию е- и g-облучения на термо и магнитотермоэдс и коэффициента Н-Э показывают, что путем радиационной обработки образцов Сd0,15Hg0,85Te можно повысить удельную чувствительность термомагнитного преобразователья на их основе. На основании сопостовительного анализа термоэлектрических и термомагнитных явлений можно сказать, что электронное и g-облучение в кристаллах КРТ существенного влияния на механизмы рассеяния носителей заряда, оно изменяет лиш число рассеиваюших центров и в образцах с nmn < pmp электронное облучение приводит к возрастанию значения коэффициента Н-Э.

Dublin Core Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<oai_dc:dc xmlns:dc='http://purl.org/dc/elements/1.1/' xmlns:oai_dc='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd'>
<dc:creator>Zulifigarov, E.I.</dc:creator>
<dc:creator>Magherramov, A.M.</dc:creator>
<dc:date>2010</dc:date>
<dc:description xml:lang='ru'><p>Радиационные эффекты в различныхдетекторах на основе КРТ,сопоставительные излучения особенностей образования и гибели электроактивных дефектов в них при различных видах воздействия ионизирующих излучений(е- и g-излучений, флюенцы,и т.п.) позволили бы получать уточненных данных по изменению кинетических параметров в этих материалах. Важное значение имеет оценка радиационной стойкости детекторов на основе узкозонных полупроводников, изучение особенностей модифицирования структуры и природы наведенных дефектов и тем самым прогнозировать путей улучшения характеристик приборов на основе КРТ. Особое значение имеет сопоставительные изучение термоэдс и термомагнитных явлений, основанных на эффекте Нернста&mdash; Эттингсгаузена. В этой связи нами проведены подобные исследования на примере образцов Cd0,15 Hg0,85Te Показано, что как при е- облучении, так и при g-воздействии наблюдается снижение значений, термоэдс причем более заметно это происходит при g-облучении. Кроме того, в обоих видах воздействия обнаруживается смещение температурных значений точек инверсии знака термоэдс на 34К, а также положений максимума a0 при Т=25К на зависимостях a0(Т) в область низких температур на 10 градусов. Надо отметить что, максимум на зависимостях a0Т обусловлен с условием равновесией |a|&raquo;|aр| и при облучении возрастает число наведенных носителей (электронов). При условии же |an|&gt;|ap| из-за sp&gt;&gt;sn в термоэдс доминирует дырки. Воздействия g-облучения при низких температурах приводит к изменению числа рассеивающих центров. Эти центры, по видимому являются донорными и обусловлены вакансией атомов Те. Изучение влияние е- и g-облучения на изменение полевых зависимостей магнитотермоэдс aн при разных температурах показывает что при Т=200К у не облученных образцов aн=0, а после е&mdash; облучение уменьшается величина aн магнитотермоэдс. При Т&sup3;200К, из-за увеличения концентраций электронов величина aн изменяется аналогично термоэдс a0. Характерным является то, что поведение aн при Т=100К и при слабых польях (Н&pound; 1,5кЭ) величина магнитотермоэдс меньше значений для исходного образца.Также показано что, у. Из сопоставлений этих результатов aн(Н,Т) g-облученных образцов Сd0,15Hg0,85Те следует, что некоторое различие на полевых зависимостях наблюдается только при больших значениях магнитного поля ( Н&sup3; 1,5 кЭ), а характер изменения aн (Т) сохраняется. Установлено, что g-облучение изменяет лишь концентрацию носителей зарядов. Полученные разультаты по влиянию е- и g-облучения на термо и магнитотермоэдс и коэффициента Н-Э показывают, что путем радиационной обработки образцов Сd0,15Hg0,85Te можно повысить удельную чувствительность термомагнитного преобразователья на их основе. На основании сопостовительного анализа термоэлектрических и термомагнитных явлений можно сказать, что электронное и g-облучение в кристаллах КРТ существенного влияния на механизмы рассеяния носителей заряда, оно изменяет лиш число рассеиваюших центров и в образцах с nmn &lt; pmp электронное облучение приводит к возрастанию значения коэффициента Н-Э.</p></dc:description>
<dc:source>Materials Science and Condensed Matter Physics (Editia 5) 326-326</dc:source>
<dc:title>S.P 50 Сравнителный анализ термоэдс и термомагнитных свойств в е- и g-облученных Cdx Hg1-x Te</dc:title>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/article</dc:type>
</oai_dc:dc>