............................................................................................................................................................................................................................
| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
| А | Б | В | Г | Д | Ж | З | И | К | Л | М | Н | О | П | Р | С | Т | У | Ф | Х | Ц | Ч | Ю | Я |
............................................................................................................................................................................................................................
NOVA University of Lisbon
Cuvinte-cheie (8): Thermoelectric transport (1), Post annealing treatment (1), Electro-optical measurements (1)
| Publicații ale autorilor în alte reviste/culegeri ale manifestărilor științifice | 0/0 |
Dinamica articolelor pe ani / CZU / DOI 1 1 publicatii cu DOI (100%) |  |
| Dinamica publicării și indexării în IBN | |
| Distribuirea numărului de pagini publicate pe categorii de reviste și ani | |
| Distribuirea articolelor pe domenii şi ani |  |
| Autori unici pe ani | |
| Numărul de articole descărcate pe ani | |
| Numărul de articole accesate pe ani | |
| Colaborarea cu organizaţii din alte ţări |   |
| Identificatori | , , 1 Scopus Author ID (50%) |
| H-index autori |  |
Publicaţii peste hotare - 1.
2013 - 1 |
Ab initio calculations and measurements of thermoelectric properties of V2O5 films     |
Chumakov Yurii  , Xiong Shiyun , Santos Joao R. , Ferreira I. , Termentzidis K. , Pokropivny Alex V. , Cortona Pietro , Volz S. |
| Journal of Electronic Materials |
| Vol. 42, / 2013 / ISSN 0361-5235 / ISSNe 1543-186X |
| Disponibil online 29 December, 2023. Descarcări-0. Vizualizări-97 |
