Rezultatele Căutării
Afisarea articolelor 1-0(1) pentru indicele czu "537.5+538.9+621.382.2"
Density of the surface states at the interface of the ITO/n-Si structures determined from voltage-capacity characteristics |
Curmei Nicolai, Rotaru Corneliu, Spoială Dorin |
Materials Science and Condensed Matter Physics |
Ediția 9. 2018. Chișinău, Republica Moldova. . |