Роль эффекта убегания электронов при импульсном пробое диэлектриков
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
135 3
Ultima descărcare din IBN:
2023-11-09 13:53
SM ISO690:2012
ВЕРШИНИН, Ю., ГАШИМОВ, А., ГУРБАНОВ, Э.. Роль эффекта убегания электронов при импульсном пробое диэлектриков. In: Электронная обработка материалов, 2005, nr. 6(41), pp. 72-75. ISSN 0013-5739.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Электронная обработка материалов
Numărul 6(41) / 2005 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718

Роль эффекта убегания электронов при импульсном пробое диэлектриков


Pag. 72-75

Вершинин Ю.1, Гашимов А.2, Гурбанов Э.2
 
1 Институт электрофизики и электроэнергетики РАН,
2 Институт Физики НАН Азербайджана
 
 
Disponibil în IBN: 4 aprilie 2023


Rezumat

The present article is dedicated on researches of nanosecond impulse discharges influence on different dielectrics. Is considered the nanosecond impulse development in solid gases, non-local criterion of electrons run off in discharge gap, compared with inverse coefficient of Townsend. Is shown the strong electrical fields influence on the properties of solid and liquid dielectrics.