IBN
Închide
Pacheco-Sanchez Anibal
Dinamica numărului de publicaţii pe ani
Dinamica articolelor pe ani
Distribuirea numărului de pagini publicate pe categorii de reviste și ani
Distribuirea articolelor pe domenii şi ani
Colaborarea autorului
Dinamica descărcărilor pe ani
Scopus Author ID
ORCiD

Publicaţii peste hotare - 1.
XLS PDF DOC
SM ISO690:2012
DOC
ISO 690:2012Clasificate
  • 4. Articole în reviste de peste hotare
  • 4.3.Articole în alte reviste științifice de peste hotare - 1

2019 - 1

Self-Heating Characterization and Thermal Resistance Modeling in Multitube CNTFETs
Pacheco-Sanchez Anibal1 , Bejenari Igor2 , Schroter Michael3
1 Universitat Autònoma de Barcelona,
2 Institute of the Electronic Engineering and Nanotechnologies "D. Ghitu",
3 Technische Universitat Dresden, Dresden
IEEE Transactions on Electron Devices
Nr. 11(66) / 2019 / ISSN - / ISSNe 0018-9383
Disponibil online 18 November, 2019. Descarcări-0. Vizualizări-636
-----------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1 - 1 of 1