Cuvinte-cheie (3): Schottky diode (1), determination of
ionization energy (1), deep level transient spectroscopy (1)
Publicaţii la conferinţe din RM - 1.
- 5. Publicaţii la manifestări din RM
- 5.3.Publicații la alte manifestări din RM - 1
The ionization energy determination of deep level defects in inhomogeneous doped semiconductor barrier structures |
Gudzev Valery , Zubkov M. , Litvinov V. , Maslov A. |
Ryazan State Radio Engineering University Ryazan |
Telecommunications, Electronics and Informatics |
Ed. 5. 2015. Chișinău, Republica Moldova. ISBN 978-9975-45-377-6. |
Disponibil online 21 May, 2018. Descarcări-0. Vizualizări-415 |