Articolul precedent |
Articolul urmator |
![]() |
![]() ![]() |
![]() CERCEL, Arcadie, IZVOREANU, Bartolomeu, FIODOROV, Ion, BARANOV, Simion. Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs. In: Microelectronics and Computer Science: The 6th International Conference, Ed. 6, 1-3 octombrie 2009, Chisinau. Bălți, Republica Moldova: Universitatea de Stat „Alecu Russo" din Bălţi, 2009, Ediţia 6, pp. 382-385. ISBN 978-9975-45-122-2. |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Microelectronics and Computer Science Ediţia 6, 2009 |
||||||
Conferința "Microelectronics and Computer Science" 6, Chisinau, Moldova, 1-3 octombrie 2009 | ||||||
|
||||||
Pag. 382-385 | ||||||
|
||||||
![]() |
||||||
Rezumat | ||||||
În lucrarea de faţă se prezintă un dispozitiv de comandă şi achiziţie de date pentru aparatul de măsură E7-12, ce permite racordarea acestuia la calculatorul personal. Scopul urmărit a fost automatizarea măsurărilor necesare pentru determinarea parametrilor stratului epitaxial din arseniură de galiu. Obţinerea parametrilor stratului epitaxial se face prin metoda volt-faradică. Dispozitivul setează tensiunea de polarizare cu pasul 0.1 V în intervalul 0-1 V şi cu pasul 1 V în intervalul 1-40 V. Pentru fiecare din aceste valori ale tensiunii, dispozitivul va cere de la aparatul de măsură valoarea capacităţii C şi a tangentei unghiului de pierderi D. Aceste valori vor fi trimise în calculator, va fi construită caracteristica volt-faradică şi vor fi determinaţi parametrii stratului epitaxial: concentraţia purtătorilor de sarcină, grosimea stratului, tensiunea de străpungere. Pentru a putea comunica cu aparatul de măsură a fost necesară implementarea protocolului GPIB (General Purpose Interface Bus). La baza dispozitivului proiectat se află un microcontrolor AVR – Atmega8. |
||||||
Cuvinte-cheie automatizarea măsurărilor, aparat de măsură E7-12, metoda volt-faradică, protocolul GPIB (IEEE-488), parametrii stratului epitaxial |
||||||
|
Crossref XML Export
<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?> <doi_batch version='4.3.7' xmlns='http://www.crossref.org/schema/4.3.7' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.crossref.org/schema/4.3.7 http://www.crossref.org/schema/deposit/crossref4.3.7.xsd'> <head> <doi_batch_id>ibn-184817</doi_batch_id> <timestamp>1719009923</timestamp> <depositor> <depositor_name>Information Society Development Instiute, Republic of Moldova</depositor_name> <email_address>[email protected]</email_address> </depositor> </head> <body> <collection> <collection_metadata> <full_title>Microelectronics and Computer Science</full_title> </collection_metadata> <collection_issue> <publication_date media_type='print'> <year>2009</year> </publication_date> <isbn>978-9975-45-045-4</isbn> </collection_issue> <collection_article publication_type='full_text'><titles> <title>Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs</title> </titles> <contributors> <person_name sequence='first' contributor_role='author'> <given_name>Arcadie</given_name> <surname>Cercel</surname> </person_name> <person_name sequence='additional' contributor_role='author'> <given_name>Bartolomeu</given_name> <surname>Izvoreanu</surname> </person_name> <person_name sequence='additional' contributor_role='author'> <given_name>Ion</given_name> <surname>Fiodorov</surname> </person_name> <person_name sequence='additional' contributor_role='author'> <given_name>Simion</given_name> <surname>Baranov</surname> </person_name> </contributors> <publication_date media_type='print'> <year>2009</year> </publication_date> <pages> <first_page>382</first_page> <last_page>385</last_page> </pages> </collection_article> </collection> </body> </doi_batch>