Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs
Закрыть
Articolul precedent
Articolul urmator
143 0
SM ISO690:2012
CERCEL, Arcadie, IZVOREANU, Bartolomeu, FIODOROV, Ion, BARANOV, Simion. Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs. In: Microelectronics and Computer Science: The 6th International Conference, Ed. 6, 1-3 octombrie 2009, Chisinau. Bălți, Republica Moldova: Universitatea de Stat „Alecu Russo" din Bălţi, 2009, Ediţia 6, pp. 382-385. ISBN 978-9975-45-122-2.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Microelectronics and Computer Science
Ediţia 6, 2009
Conferința "Microelectronics and Computer Science"
6, Chisinau, Moldova, 1-3 octombrie 2009

Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs


Pag. 382-385

Cercel Arcadie1, Izvoreanu Bartolomeu1, Fiodorov Ion1, Baranov Simion2
 
1 Universitatea Tehnică a Moldovei,
2 Centrul Ştiinţific şi Inginerie „Informinstrument“
 
 
Disponibil în IBN: 14 iulie 2023


Rezumat

În lucrarea de faţă se prezintă un dispozitiv de comandă şi achiziţie de date pentru aparatul de măsură E7-12, ce permite racordarea acestuia la calculatorul personal. Scopul urmărit a fost automatizarea măsurărilor necesare pentru determinarea parametrilor stratului epitaxial din arseniură de galiu. Obţinerea parametrilor stratului epitaxial se face prin metoda volt-faradică. Dispozitivul setează tensiunea de polarizare cu pasul 0.1 V în intervalul 0-1 V şi cu pasul 1 V în intervalul 1-40 V. Pentru fiecare din aceste valori ale tensiunii, dispozitivul va cere de la aparatul de măsură valoarea capacităţii C şi a tangentei unghiului de pierderi D. Aceste valori vor fi trimise în calculator, va fi construită caracteristica volt-faradică şi vor fi determinaţi parametrii stratului epitaxial: concentraţia purtătorilor de sarcină, grosimea stratului, tensiunea de străpungere. Pentru a putea comunica cu aparatul de măsură a fost necesară implementarea protocolului GPIB (General Purpose Interface Bus). La baza dispozitivului proiectat se află un microcontrolor AVR – Atmega8.

Cuvinte-cheie
automatizarea măsurărilor, aparat de măsură E7-12, metoda volt-faradică, protocolul GPIB (IEEE-488), parametrii stratului epitaxial

Crossref XML Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<doi_batch version='4.3.7' xmlns='http://www.crossref.org/schema/4.3.7' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.crossref.org/schema/4.3.7 http://www.crossref.org/schema/deposit/crossref4.3.7.xsd'>
<head>
<doi_batch_id>ibn-184817</doi_batch_id>
<timestamp>1719009923</timestamp>
<depositor>
<depositor_name>Information Society Development Instiute, Republic of Moldova</depositor_name>
<email_address>[email protected]</email_address>
</depositor>
</head>
<body>
<collection>
<collection_metadata>
<full_title>Microelectronics and Computer Science</full_title>
</collection_metadata>
<collection_issue>
<publication_date media_type='print'>
<year>2009</year>
</publication_date>
<isbn>978-9975-45-045-4</isbn>
</collection_issue>
<collection_article publication_type='full_text'><titles>
<title>Sistem de control automat a parametrilor stratului epitaxial din GaAs</title>
</titles>
<contributors>
<person_name sequence='first' contributor_role='author'>
<given_name>Arcadie</given_name>
<surname>Cercel</surname>
</person_name>
<person_name sequence='additional' contributor_role='author'>
<given_name>Bartolomeu</given_name>
<surname>Izvoreanu</surname>
</person_name>
<person_name sequence='additional' contributor_role='author'>
<given_name>Ion</given_name>
<surname>Fiodorov</surname>
</person_name>
<person_name sequence='additional' contributor_role='author'>
<given_name>Simion</given_name>
<surname>Baranov</surname>
</person_name>
</contributors>
<publication_date media_type='print'>
<year>2009</year>
</publication_date>
<pages>
<first_page>382</first_page>
<last_page>385</last_page>
</pages>
</collection_article>
</collection>
</body>
</doi_batch>