Применение устройства для корректурных проб
Закрыть
Articolul precedent
Articolul urmator
601 2
Ultima descărcare din IBN:
2019-02-28 15:18
SM ISO690:2012
РОМАНЕНКО, Александр, БАЛМУШ, Ион, DUCA, Ludmila. Применение устройства для корректурных проб. In: Microelectronics and Computer Science, Ed. 9, 19-21 octombrie 2017, Chisinau. Chișinău, Republica Moldova: Universitatea Tehnică a Moldovei, 2017, Ediția 9, pp. 535-536. ISBN 978-9975-4264-8-0.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Microelectronics and Computer Science
Ediția 9, 2017
Conferința "Microelectronics and Computer Science"
9, Chisinau, Moldova, 19-21 octombrie 2017

Применение устройства для корректурных проб


Pag. 535-536

Романенко Александр, Балмуш Ион, Duca Ludmila
 
Технический Университет Молдовы
 
 
Disponibil în IBN: 2 noiembrie 2017


Rezumat

В статье рассматривается метод для исследования внимания испытуемого при помощи устройства для корректурных проб

Dublin Core Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<oai_dc:dc xmlns:dc='http://purl.org/dc/elements/1.1/' xmlns:oai_dc='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' xsi:schemaLocation='http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd'>
<dc:creator>Romanenko, A.</dc:creator>
<dc:creator>Balmuş, I.</dc:creator>
<dc:creator>Duca, L.</dc:creator>
<dc:date>2017</dc:date>
<dc:description xml:lang='ru'><p><strong>В статье рассматривается метод для исследования внимания испытуемого при помощи устройства для корректурных проб</strong></p></dc:description>
<dc:source>Microelectronics and Computer Science (Ediția 9) 535-536</dc:source>
<dc:title>Применение устройства для корректурных проб</dc:title>
<dc:type>info:eu-repo/semantics/article</dc:type>
</oai_dc:dc>