К вопросу о моделировании качества поверхностного слоя при электрохимической обработке

Маннапов А.; Зайцев А.

Articolul precedent

Articolul urmator

239

SM ISO690:2012

МАННАПОВ, А., ЗАЙЦЕВ, А.. К вопросу о моделировании качества поверхностного слоя при электрохимической обработке. In: Materials Science and Condensed Matter Physics, 13-17 septembrie 2010, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: Institutul de Fizică Aplicată, 2010, Editia 5, p. 265.

EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core

Materials Science and Condensed Matter Physics
Editia 5, 2010

Conferința "Materials Science and Condensed Matter Physics"
Chișinău, Moldova, 13-17 septembrie 2010

К вопросу о моделировании качества поверхностного слоя при электрохимической обработке

Pag. 265-265

Маннапов А., Зайцев А.

ФГБОУ ВПО «Уфимский государственный авиационный технический университет»

Disponibil în IBN: 22 aprilie 2021

Descarcă PDF

Rezumat

Известно, что одним из параметров процесса ЭХО, существенно влияющим на качество поверхностного слоя, является плотность тока. Также известно, что шероховатость поверхности при ЭХО может изменяться в широких пределах и является результатом образования микродефектов геометрии обработанной поверхности в связи с неоднородностью структуры, химических и физических свойств материалов. С технологической точки зрения представляет интерес вопрос об определении параметров качества поверхностного слоя для каждой точки обрабатываемой поверхности в любой момент времени. В качестве параметров качества поверхностного слоя Q могут выступать, например, параметры шероховатости (Ra, Rz, Rmax) и др. Результаты наших экспериментальных исследований показывают, что при ЭХО сталей импульсами тока миллисекундного диапазона (0,5…2 мс) указанные параметры качества поверхностного слоя в пределах погрешности проведения эксперимента могут быть описаны для условий стационарной обработки гиперболической зависимостью (рис. 1):formulaгде j – плотность тока, formula эмпирический коэффициентfigureРис. 1. Характерная зависимость параметра Q {Ra ,Rz , Rmax} = от плотности тока (при j(t)=const) После дифференцирования данного уравнения получаем:formulaТаким образом, зная закон изменения плотности тока во времени j(t), можно определить закон изменения параметров качества поверхностного слоя. На наш взгляд, можно выделить 3 основных области практического применения полученных дифференциальных уравнений: · для моделирования качества поверхностного слоя для условий нестационарного режима ЭХО при операциях прямого копирования; · для моделировании качества поверхностного слоя при ЭХО методом “следа”; · при формулировании технических требований к источникам технологического тока электрохимических станков, в частности требований к длине и форме переднего и заднего фронтов импульсов, а также к форме основной части импульсов.

Cerif XML Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<CERIF xmlns='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1' xsi:schemaLocation='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1 http://www.eurocris.org/Uploads/Web%20pages/CERIF-1.5/CERIF_1.5_1.xsd' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' release='1.5' date='2012-10-07' sourceDatabase='Output Profile'>
<cfResPubl>
<cfResPublId>ibn-ResPubl-128046</cfResPublId>
<cfResPublDate>2010</cfResPublDate>
<cfVol>Editia 5</cfVol>
<cfStartPage>265</cfStartPage>
<cfISBN></cfISBN>
<cfURI>https://ibn.idsi.md/ro/vizualizare_articol/128046</cfURI>
<cfTitle cfLangCode='RU' cfTrans='o'>К вопросу о моделировании качества поверхностного слоя при электрохимической обработке</cfTitle>
<cfAbstr cfLangCode='RU' cfTrans='o'><p>Известно, что одним из параметров процесса ЭХО, существенно влияющим на качество поверхностного слоя, является плотность тока. Также известно, что шероховатость поверхности при ЭХО может изменяться в широких пределах и является результатом образования микродефектов геометрии обработанной поверхности в связи с неоднородностью структуры, химических и физических свойств материалов. С технологической точки зрения представляет интерес вопрос об определении параметров качества поверхностного слоя для каждой точки обрабатываемой поверхности в любой момент времени. В качестве параметров качества поверхностного слоя Q могут выступать, например, параметры шероховатости (Ra, Rz, Rmax) и др. Результаты наших экспериментальных исследований показывают, что при ЭХО сталей импульсами тока миллисекундного диапазона (0,5&hellip;2 мс) указанные параметры качества поверхностного слоя в пределах погрешности проведения эксперимента могут быть описаны для условий стационарной обработки гиперболической зависимостью (рис. 1):</p><p>formula</p><p>где j &ndash; плотность тока, formula&nbsp;эмпирический коэффициент</p><p>figure</p><p>Рис. 1. Характерная зависимость параметра Q {Ra ,Rz , Rmax} = от плотности тока (при j(t)=const) После дифференцирования данного уравнения получаем:</p><p>formula</p><p>Таким образом, зная закон изменения плотности тока во времени j(t), можно определить закон изменения параметров качества поверхностного слоя. На наш взгляд, можно выделить 3 основных области практического применения полученных дифференциальных уравнений: &middot; для моделирования качества поверхностного слоя для условий нестационарного режима ЭХО при операциях прямого копирования; &middot; для моделировании качества поверхностного слоя при ЭХО методом &ldquo;следа&rdquo;; &middot; при формулировании технических требований к источникам технологического тока электрохимических станков, в частности требований к длине и форме переднего и заднего фронтов импульсов, а также к форме основной части импульсов.</p></cfAbstr>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>eda2d9e9-34c5-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>759af938-34ae-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>e601872f-4b7e-4d88-929f-7df027b226c9</cfClassId>
<cfClassSchemeId>40e90e2f-446d-460a-98e5-5dce57550c48</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-88418</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-88421</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
</cfResPubl>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-88418</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-88418-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Маннапов</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>А.</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-88421</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-88421-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2010T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Зайцев</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>А.</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
</CERIF>