Afiliat la Institutul de Inginerie Electronică şi Tehnologii Industriale al AȘM
Bend Testing of Tin Doped Bismuth Microwire |
Dîntu Maria , Donu Sofia , Iacobciuc Dinara |
Microelectronics and Computer ScienceThe 6th International Conference |
Ediţia 6. 2009. Bălți, Republica Moldova. Universitatea de Stat „Alecu Russo" din Bălţi. 508-510. |
Disponibil online 17 July, 2023 |
1-1 of 1