Scorţescu Dumitru 
Cuvinte-cheie (25): X-ray diffraction techniques (1), Structural investigation (1), Structural and optical properties (1)
| Dinamica numărului de publicaţii pe ani |  |  | |
| Dinamica articolelor pe ani |  | ||
| Distribuirea numărului de pagini publicate pe categorii de reviste și ani | | ||
| Distribuirea articolelor pe domenii şi ani | |  | |
| Colaborarea autorului |  |  | |
| Dinamica descărcărilor pe ani | | ||
Teze/Rezumate în culegeri - 1.
Electrical properties of thermally annealed CdS thin films obtained by chemical bath deposition   |
Scorţescu Dumitru1 , Maticiuc Natalia1  , Nicorici Valentina1 , Spalatu Nicolae1 , Potlog Tamara1 , Hiie Jaan2 , Valdna Vello2 |
| 1 Moldova State University, 2 Tallinn University of Technology |
| Proceedings of the International Semiconductor Conference CAS |
| Vol. 2. 2011. New Jersey. ISBN 978-161284171-7. |
| Disponibil online 12 December, 2023. Descarcări-0. Vizualizări-114 |
