IBN
Close
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Anul fondării  1999
Tirajul revistei   
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Vol. 22 / i7-8 / 2020  (1 din 12)1    
 2020  (1 din 12)1    
Vol. 22, i7-81
 2017  (2 din 12)3    
Vol. 19, i5-61
Vol. 19, i3-42
 2016  (3 din 12)4    
Vol. 18, i9-101
Vol. 18, i11-121
Vol. 18, i1-22
 2015  (1 din 12)2    
Vol. 17, i7-82
 2014  (2 din 12)2    
Vol. 16, i7-81
Vol. 16, i1-21
 2013  (1 din 12)1    
Vol. 15, i11-121
 2012  (1 din 12)1    
Vol. 14, i7-81
 2011  (2 din 12)7    
Vol. 13, i91
Vol. 13, i11-126
 2010  (2 din 12)4    
Vol. 12, i81
Vol. 12, i43
 2009  (3 din 12)9    
Vol. 11, i127
Vol. 11, i61
Vol. 11, i41
 2008  (3 din 12)7    
Vol. 10, i122
Vol. 10, i112
Vol. 10, i43
 2007  (2 din 12)7    
Vol. 9, i106
Vol. 9, i61
 2006  (6 din 12)13    
Vol. 8, i62
Vol. 8, i51
Vol. 8, i42
Vol. 8, i32
Vol. 8, i22
Vol. 8, i14
 2005  (5 din 12)15    
Vol. 7, i61
Vol. 7, i53
Vol. 7, i41
Vol. 7, i32
Vol. 7, i28
 2003  (3 din 12)7    
Vol. 5, i55
Vol. 5, i41
Vol. 5, i21
 2002  (2 din 12)3    
Vol. 4, i41
Vol. 4, i12
 2001  (3 din 12)7    
Vol. 3, i41
Vol. 3, i24
Vol. 3, i12
 2000  (3 din 12)3    
Vol. 2, i41
Vol. 2, i31
Vol. 2, i11
 1999  (2 din 12)4    
Vol. 1, i22
Vol. 1, i12
imagine

pISSN: 1454-4164
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
Factor de impact CiteScore 2021 - 1.1
Factor de impact SJR 2021 - 0.153
Factor de impact SNIP 2021 - 0.212

În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
1999 - 2020
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcate
Articole1001157528
Volume47416653
Total1471574181

Vizualizări   64

Conţinutul numărului de revistă

Luminescence properties of Eu3+/thenoyltrifluoroacetonate composites 841-844
Yovu M. , Andriesh Andrei , Buzurniuc Svetlana , Verlan Victor , Caraman Mihail , Zubareva Vera
Low temperature X-Ray powder diffraction study of lead telluride doped with Yb 860-861
Nikorich Andrey V. , Shklover Valery , Todosiciuc Alexandr
Some optical properties of thermally deposited Sb2Se 3:Sn thin films 862-866
Yovu M. , Harea Diana , Kolomeyko Eduard