............................................................................................................................................................................................................................
| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
| А | Б | В | Г | Д | Ж | З | И | К | Л | М | Н | О | П | Р | С | Т | У | Ф | Х | Ц | Ч | Ю | Я |
............................................................................................................................................................................................................................
Institutul de Inginerie de Cercetare a Materialelor, Singapore
| Publicații ale autorilor în alte reviste/culegeri ale manifestărilor științifice | 0/0 |
Dinamica articolelor pe ani / CZU / DOI 1 1 publicatii cu DOI (100%) |  |
| Dinamica publicării și indexării în IBN | |
| Distribuirea numărului de pagini publicate pe categorii de reviste și ani | |
| Distribuirea articolelor pe domenii şi ani |  |
| Autori unici pe ani | |
| Numărul de articole descărcate pe ani | |
| Numărul de articole accesate pe ani | |
| Colaborarea cu organizaţii din alte ţări |   |
| Identificatori | , , 3 Scopus Author ID (100%) |
| H-index autori |  |
Publicaţii peste hotare - 1.
- 4. Articole în reviste de peste hotare
- 4.2.Articole în reviste din Scopus - 1
2001 - 1 |
Growth and characterization of crack-free GaN films grown on cracked Si-doped GaN templates   |
Sia Engkee , Hao Maosheng , Chua Soo Jin , Tiginyanu Ion  , Ichizli V. , Mutamba Kabula , Hartnagel Hans Ludwig , Zhang Ji , Tripathy Sudhiranjan R. |
| Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Vol. 4594, / 2001 / ISSN 0277-786X / ISSNe 1996-756X |
| Disponibil online 14 February, 2024. Descarcări-0. Vizualizări-69 |
