| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Conferința " International Semiconductor Conference" CAS 2010, 33
Sinaia, Romania, 11-13 octombrie 2010
Cuvinte-cheie (20): Refractive and extinction coefficients (1), Reflection peaks (1), Extinction coefficients (1)
Proceedings of the International Semiconductor Conference CAS
Volum, serie, parte, nr: Vol. 2
Locul publicării: New Jersey
Editura: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Anul publicării: 2010
Numărul de pagini: 350
ISBN: 978-142445781-6
DOI: 10.1109/CAS16568.2010
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
2Disponibil în IBN: 12 decembrie 2023
Vizualizări
152Descărcări
0
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Tehnică (112)Ştiinţe fizico-matematice (91)Chimie (4)
