Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1-xPrxSe2
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
789 0
SM ISO690:2012
MAMEDOV, G., ГОДЖАЕВ, Эльдар, ГЮЛЬМАМЕДОВ, К., ДАДАШОВ, М., РУСТАМОВ, В.. Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1-xPrxSe2. In: Электронная обработка материалов, 2013, nr. 6(49), pp. 116-119. ISSN 0013-5739.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Электронная обработка материалов
Numărul 6(49) / 2013 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718

Устройства для многоточечного тензометрирования на базе кристаллов TlIn1-xPrxSe2

Pag. 116-119

Mamedov G., Годжаев Эльдар, Гюльмамедов К., Дадашов М., Рустамов В.
 
Азербайджанский технический университет
 
 
Disponibil în IBN: 3 martie 2014


Rezumat

Разработаны устройства для использования при высоких температурах многоточечного тензометрирования на базе новых кристаллов TlIn1-xPrxSe2(0 ≤ x ≤ 0,04), позволяющие повысить производительность и надежность результатов измерений при многоточечной тензометрии.

The given work presents the devices on the base of new TlIn1-xPrxSe2(0 ≤ x ≤ 0.04) crystals developed to be used in high temperature multipoint tensometry, which allows for raising productivity and reliability of results of measurements at multipoint tensometry.

Cuvinte-cheie
Разработаны устройства для использования при высоких многоточечная тензометрия, фотоэлектрические cвойства, направленная деформация, звуковой зонд.