Determinarea indicelui de refracţie a straturilor subţiri de ZnSe prin metoda Swanepoel
Закрыть
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
816 6
Ultima descărcare din IBN:
2021-12-22 12:36
Căutarea după subiecte
similare conform CZU
538.9 (350)
Физика конденсированного состояния (жидкое и твердое состояние) (349)
SM ISO690:2012
POPA, Mihail, RUSU, Gheorghe Ioan. Determinarea indicelui de refracţie a straturilor subţiri de ZnSe prin metoda Swanepoel. In: Fizică şi tehnică: procese, modele, experimente, 2006, nr. 2, pp. 58-64. ISSN 1857-0437.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Fizică şi tehnică: procese, modele, experimente
Numărul 2 / 2006 / ISSN 1857-0437

Determinarea indicelui de refracţie a straturilor subţiri de ZnSe prin metoda Swanepoel
CZU: 538.9

Pag. 58-64

Popa Mihail1, Rusu Gheorghe Ioan2
 
1 Universitatea de Stat „Alecu Russo” din Bălţi,
2 Universitatea "Alexandru Ioan Cuza", Iaşi
 
 
Disponibil în IBN: 10 decembrie 2014


Rezumat

Spectrele de transmisie, reflexie şi absorbţie ale straturilor subţiri de ZnSe au fost cercetate în domeniul spectral de lungimi de undă 300 – 1400 nm. Din spectrele de transmisie, folosind metoda „anvelopei” propusă de Swanepoel, a fost determinat indicele de refracţie ale straturilor subţiri policristaline de ZnSe. Acesta scade odată cu creşterea grosimii şi creşte în urma tratamentului termic. Pentru explicarea dispersiei normale a indicelui de refracţie a fost folosit modelul unui singur oscilator.

The spectral dependences of transmission, reflection and absorption for ZnSe thin films have been studied in spectral domain of 300 – 1400 nm. Using „tyre’s” method proposed by Swanepoel, from the spectral dependences of transmission, the index of refraction of the thin polycrystalline films of ZnSe was determined. This lowers while thickness grows and rises after thermal treatment. To explain the normal dispersion of the index of refraction the model of a single oscillator was used.