IBN
Închide
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXZ
ЗСЭ

Despre revistă
Cautare
Domenii de acreditare
Domenii ştiinţifice
Acces la textul integral
Anul fondării  1965
Fondatori
Institutul de Fizică Aplicată
Tirajul revistei   100
Vizibilitate internațională
Caracteristica articolelor
Limba de publicare
Ultima descărcare din IBN:
2022-10-08 11:37
Colegiul de redacţie
Vizibilitatea autorilor

Numărul curent

  Vol. 60 / i1 / 2024  (1 din 6)3    
 2024  (1 din 6)3    
Vol. 60, i1 3
 2023  (5 din 6)16    
Vol. 59, i6 5
Vol. 59, i4 3
Vol. 59, i3 3
Vol. 59, i2 2
Vol. 59, nr. 1 3
 2022  (3 din 6)7    
Nr. 5(58) 2
Nr. 4(58) 3
Nr. 2(58) 2
 2021  (5 din 6)13    
Vol. 57, i2 3
Nr. 5(57) 3
Nr. 4(57) 2
Nr. 3(57) 3
Nr. 1(57) 2
 2020  (3 din 6)8    
Nr. 6(56) 3
Nr. 2(56) 3
Nr. 1(56) 2
 2019  (6 din 6)12    
Vol. 55, i4 3
Nr. 6(55) 1
Nr. 5(55) 1
Nr. 3(55) 2
Nr. 2(55) 4
Nr. 1(55) 1
 2018  (5 din 6)7    
Nr. 6(54) 1
Nr. 5(54) 1
Nr. 4(54) 2
Nr. 3(54) 2
Nr. 2(54) 1
 2017  (3 din 6)9    
Nr. 3(53) 2
Nr. 2(53) 2
Nr. 1(53) 5
 2016  (6 din 6)16    
Nr. 6(52) 2
Nr. 5(52) 2
Nr. 4(52) 3
Nr. 3(52) 4
Nr. 2(52) 2
Nr. 1(52) 3
 2015  (6 din 6)7    
Vol. 51, nr. 4 (supl.) 1
Vol. 51, i3 1
Vol. 51, i1 2
Vol. 51, nr. 6 1
Vol. 51, nr. 5 1
Vol. 51, nr. 2 1
 2014  (1 din 6)8    
Nr. 1(50) 8
 2013  (3 din 6)35    
Nr. 3(49) 17
Nr. 2(49) 17
Nr. 1(49) 1
 2012  (2 din 6)16
Vol. 48, i6 1
Nr. 1(48) 15
 2011  (6 din 6)100    
Nr. 6(47) 18
Nr. 5(47) 18
Nr. 4(47) 11
Nr. 3(47) 16
Nr. 2(47) 18
Nr. 1(47) 19
 2010  (6 din 6)99    
Nr. 6(46) 17
Nr. 5(46) 19
Nr. 4(46) 13
Nr. 3(46) 17
Nr. 2(46) 19
Nr. 1(46) 14
 2009  (6 din 6)89    
Nr. 6(45) 6
Nr. 5(45) 24
Nr. 4(45) 16
Nr. 3(45) 14
Nr. 2(45) 16
Nr. 1(45) 13
 2008  (5 din 6)78    
Nr. 5(44) 13
Nr. 4(44) 18
Nr. 3(44) 16
Nr. 2(44) 15
Nr. 1(44) 16
 2007  (6 din 6)97    
Nr. 6(43) 19
Nr. 5(43) 17
Nr. 4(43) 13
Nr. 3(43) 16
Nr. 2(43) 19
Nr. 1(43) 13
imagine

pISSN: 1068-3755
eISSN: 1934-8002
Surface Engineering and Applied Electrochemistry
Categoria:
  • A (22.12.2021-22.12.2025)
Factor de impact ISI 2012 - 0.289
Factor de impact CiteScore 2022 - 1.6
Factor de impact SJR 2022 - 0.23
Factor de impact SNIP 2022 - 0.504

Fizica materiei condensate, atomilor, nucleelor şi tehnologii ale materialelor şi dispozitivelor semiconductoare, inclusiv nanotehnologii. Electro- şi termofizica proceselor de transfer şi tehnologii de prelucrare a materialelor


În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2007 - 2024
Clasificate
ÎnregistrateAccesateDescărcateDOI
Articole cu
H-index RM, Scopus
114951
Articole620175203831378107
Volume78601001104
Total698181213832482

Vizualizări   983Descărcări   11

Conţinutul numărului de revistă

The impact of the discreteness of low-fluence ion beam processing on the spatial architecture of GaN nanostructures fabricated by surface charge lithography 1-3

DOI: 10.3103/S1068375513010146

Tiginyanu Ion , Volciuc Olesea , Stevens-Kalceff Marion A. , Popa Veaceslav , Gutowski Jurgen , Wille Sebastian , Adelung Rainer , Foll Helmut