Conţinutul numărului revistei |
Articolul precedent |
Articolul urmator |
701 0 |
Căutarea după subiecte similare conform CZU |
66.086.2 (3) |
Tehnologie chimică. Industrii chimice și înrudite (1500) |
SM ISO690:2012 ФАЗУЛЛИН, Д., МАВРИН, Г., ШАЙХИЕВ, И.. Воздействие СВЧ-излучения на тонкопленочные полимерные мембраны. In: Электронная обработка материалов, 2019, nr. 3(55), pp. 58-65. ISSN 0013-5739. DOI: https://doi.org/10.5281/zenodo.3244416 |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Электронная обработка материалов | ||||||
Numărul 3(55) / 2019 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718 | ||||||
|
||||||
DOI:https://doi.org/10.5281/zenodo.3244416 | ||||||
CZU: 66.086.2 | ||||||
Pag. 58-65 | ||||||
|
||||||
Descarcă PDF | ||||||
Rezumat | ||||||
Для улучшения физико-химических свойств тонкопленочных мембран из нейлона и из нейлона с поверхностным слоем из полистирола (ПС) – «нейлон-ПС» провели их обработку сверхвысокочастотным (СВЧ) излучением с частотой 2450 МГц и мощностью 300 Вт в воздушной среде. Выявлено изменение массы мембран в зависимости от времени обработки для мембран из нейлона – до 0,34% и «нейлон-ПС» – до 0,67%. Результаты сканирующей электронной микроскопии показали образование на поверхности мембран расплавленных и уплотненных участков. Установлено повышение гидрофильности и удельной производительности мембран в результате обработки СВЧ-излучением. Выявлено снижение шероховатости поверхностного слоя мембран и изменение в структуре мембраны «нейлон-ПС» по результатам растровой электронной микроскопии. Изменения в надмолекулярной структуре мембраны «нейлон-ПС» подтверждены результатами ИК-Фурье-спектрометрии: выявлено смещение основания полосы поглощения характерной для колебаний связи С-H фенильной группы ПС. Фенильные группы в макромолекуле полимера препятствуют кристаллизации ПС, смещение основания пика свидетельствует о структурных изменениях в макромолекуле, что приводит к повышению степени кристалличности ПС. Под воздействием СВЧ-излучения в ПС изменяется положение фенильной группы, она располагается, чередуясь по разные стороны основной цепи, что способствует росту числа центров кристаллизации, упорядочению структуры. Повышение интенсивности полос поглощения ИК-спектров после обработки мембраны из нейлона связано с разрушением дефектных областей поверхностного слоя мембраны. |
||||||
Cuvinte-cheie мембраны, нейлон, полистирол, поры, смачиваемость, СВЧ-излучение, ИК-Фурье-спектроскопия, сканирующая электронная микроскопия, membranes, nylon, polystyrene, pores, wettability, microwave radiation, Fourier-transform infrared spectroscopy, scanning electron microscopy |
||||||
|
Google Scholar Export
<meta name="citation_title" content="Воздействие СВЧ-излучения на тонкопленочные полимерные мембраны"> <meta name="citation_author" content="Фазуллин Д."> <meta name="citation_author" content="Маврин Г."> <meta name="citation_author" content="Шайхиев И."> <meta name="citation_publication_date" content="2019/06/20"> <meta name="citation_journal_title" content="Электронная обработка материалов"> <meta name="citation_volume" content="55"> <meta name="citation_issue" content="3"> <meta name="citation_firstpage" content="58"> <meta name="citation_lastpage" content="65"> <meta name="citation_pdf_url" content="https://ibn.idsi.md/sites/default/files/imag_file/58-65_0.pdf">