Mems manufacturing and reliability
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
97 1
Ultima descărcare din IBN:
2019-05-09 11:34
Căutarea după subiecte
similare conform CZU
316.77:004.7 (1)
Sociologia culturii. Contextul cultural al vieții sociale (292)
Comunicații între calculatoare. Rețele de calculatoare (143)
SM ISO690:2012
BĂJENESCU, Titu-Marius. Mems manufacturing and reliability. In: Journal of Engineering Sciences. 2019, nr. 1, pp. 65-82. ISSN 2587-3474.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF
BibTeX
DataCite
Dublin Core
Journal of Engineering Sciences
Numărul 1 / 2019 / ISSN 2587-3474 /ISSNe 2587-3482

Mems manufacturing and reliability

Manufactura și fiabilitatea sistemelor microelectro-mecanice (MEMS)


CZU: 316.77:004.7
DOI: 10.5281/zenodo.2640042
Pag. 65-82

Băjenescu Titu-Marius
 
Swiss Technology Association
 
Disponibil în IBN: 7 mai 2019


Rezumat

Today flexibility means to produce reasonably priced customized products of high quality that can be quickly delivered to customers. The article analyses issues related to physic, able to generating defects, affecting the reliability limits for MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems). The MEMS industry is currently at a much more vulnerable position than it appears, regardless of how wonderful its future may look like. A full understanding of the physics and statistics of the defect generation is required to investigate the ultimate reliability limitations for nanodevices. Biggest challenge: cost effective, high volume production.

Flexibilitatea actuală a mărfurilor înseamnă a fabrica produse la preţuri rezonabile, de înaltă calitate, care pot fi livrate rapid clienţilor. Sistemele microelectromecanice (MEMS) constau din elemente mecanice, senzori, dispozitive de acţionare și dispozitive electrice și electronice pe un substrat comun de siliciu. Senzorii din MEMS colectează informaţii din mediul prin măsurarea fenomenelor mecanice, termice, biologice, chimice, optice și magnetice. În articol sunt analizate probleme legate de fizica și a statistica generării defectelor pentru a investiga limitele finale de fiabilitate pentru nanodispozitive. Industria MEMS este prezentă într-o poziţie mult mai vulnerabilă decât pare, indiferent de cât de minunat ar putea să arate viitorul ei. Extinderea cunoștinţelor despre fizica eșecului va permite îmbunătăţirea fiabilităţii acestora și dezvoltarea metodelorde testare accelerate. Cea mai mare provocare o constituie producţia eficientă din punct de vedere al costurilor.

Cuvinte-cheie
Process errors, MEMS, optical MEMS, failure analysis, MEMS switches, package cracking, failure mechanisms, reliability, creep, lifetime prediction,

Erori de proces, MEMS, MEMS optic, analiza defecţiunilor, întrerupătoare MEMS, defecte ambalare, mecanisme de detectare eșec, fiabilitate, fluaj, predicţie de viaţă