Тонкие слои Cu2ZnSnS4 отожженные в атмосфере селена
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
595 1
Ultima descărcare din IBN:
2021-06-03 17:38
SM ISO690:2012
ДЕРМЕНЖИ, Л.. Тонкие слои Cu2ZnSnS4 отожженные в атмосфере селена. In: Tendinţe contemporane ale dezvoltării ştiinţei: viziuni ale tinerilor cercetători, Ed. 4, 10 martie 2015, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: Universitatea Academiei de Ştiinţe a Moldovei, 2015, Ediția 4, p. 38.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Tendinţe contemporane ale dezvoltării ştiinţei: viziuni ale tinerilor cercetători
Ediția 4, 2015
Conferința "Tendinţe contemporane ale dezvoltării ştiinţei: viziuni ale tinerilor cercetători"
4, Chișinău, Moldova, 10 martie 2015

Тонкие слои Cu2ZnSnS4 отожженные в атмосфере селена


Pag. 38-38

Дерменжи Л.
 
Институт прикладной физики АНМ
 
 
Disponibil în IBN: 14 februarie 2019



Teza

В данной работе представлены результаты исследования тонких плёнок Cu2ZnSnS4(CZTS) полученных методом спрей-пиролиза в открытой атмосфере и отожженных в атмосфере селена. Это позволяет получить твёрдые растворы Cu2ZnSn(SxSe1-x)4 (CZTSSe). Водно-спиртовой раствор CuCl, Zn(O2CCH3)2, SnCl4 ·5H2O и SC(NH2)2 [1] наносится на стекло или на стекло со слоями ITO и CdS при температуре 450° С. Слой ITO так же наносится спрей-пиролизом в открытой атмосфере, а CdS наносился методом горячей стенки. При этом толщина ITO ~ 0,4 мкм, CdS не превышала 1 мкм. Полученные тонкие слои и структуры отжигались около 30 мин в откачанной кварцевой ампуле с элементарным Se при температуре 525° С. На структуру нанесли задний контакт из Ag. Состав в плёнках и поглощающем слое определяли EDX-спектроскопией и спектрами комбинационного рассеяния (КР). При этом химический состав показал избыток Cu, Sn и дефицит S до отжига, а КР спектр широкий пик в области 338 см-1 у полученных образцов. После отжига наблюдались дефицит Cu и, как следствие, избыток анионов над металлами {(S+Se)/Ме ≈ 1,1}. Соотношение анионов: S/Se ≈ 2,0. спектры КР подтвердили это наличием 2-х пиков: 335 см-1 и 220 см-1. Структуры glass/ITO/CdS/CZTSSe/Ag проанализированы по спектральной зависимости фотопроводимости в диапазоне 700—1200 нм при подсветке со стороны стекла. При этом найдена ширина запрещённой зоны около 1,3 эВ. Эти данные подтверждают, что в образцах активный слой - CZTSSe.

Cerif XML Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<CERIF xmlns='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1' xsi:schemaLocation='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1 http://www.eurocris.org/Uploads/Web%20pages/CERIF-1.5/CERIF_1.5_1.xsd' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' release='1.5' date='2012-10-07' sourceDatabase='Output Profile'>
<cfResPubl>
<cfResPublId>ibn-ResPubl-72065</cfResPublId>
<cfResPublDate>2015</cfResPublDate>
<cfVol>Ediția 4</cfVol>
<cfStartPage>38</cfStartPage>
<cfISBN></cfISBN>
<cfURI>https://ibn.idsi.md/ro/vizualizare_articol/72065</cfURI>
<cfTitle cfLangCode='RU' cfTrans='o'>Тонкие слои Cu2ZnSnS4 отожженные в атмосфере селена</cfTitle>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>eda2d9e9-34c5-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>759af938-34ae-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2015T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>e601872f-4b7e-4d88-929f-7df027b226c9</cfClassId>
<cfClassSchemeId>40e90e2f-446d-460a-98e5-5dce57550c48</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2015T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-23990</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2015T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
</cfResPubl>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-23990</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-23990-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2015T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Дерменжи</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>Л.</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
</CERIF>