Obținerea și caracterizarea filmelor subțiri în sistemul ZnSnO
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
821 13
Ultima descărcare din IBN:
2023-09-20 13:17
SM ISO690:2012
MORARI, Vadim, RUSU, Emil, CURMEI, Nicolai, URSACHI, Veaceslav, BRINCOVEANU, Oana, MESTERCA, Raluca, MOISE, Calin, PRODANA, Mariana, ENĂCHESCU, Marius. Obținerea și caracterizarea filmelor subțiri în sistemul ZnSnO. In: Telecommunications, Electronics and Informatics, Ed. 6, 24-27 mai 2018, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: 2018, Ed. 6, pp. 133-136. ISBN 978-9975-45-540-4.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Telecommunications, Electronics and Informatics
Ed. 6, 2018
Conferința "Telecommunications, Electronics and Informatics"
6, Chișinău, Moldova, 24-27 mai 2018

Obținerea și caracterizarea filmelor subțiri în sistemul ZnSnO


Pag. 133-136

Morari Vadim1, Rusu Emil1, Curmei Nicolai1, Ursachi Veaceslav1, Brincoveanu Oana2, Mesterca Raluca2, Moise Calin2, Prodana Mariana2, Enăchescu Marius2
 
1 Institutul de Inginerie Electronică şi Nanotehnologii "D. Ghiţu" al AŞM,
2 Universitatea Politehnică din Bucureşti
 
 
Disponibil în IBN: 29 mai 2018


Rezumat

Quasi-planar thin films with thickness of 200 – 700 nm and surface roughness around 10 nm have been prepared by aerosol spray deposition in the ZnSnO semiconductor system. Heterostructures have been produced by deposition of films on pSi substrates and their operation as injection photodiodes has been demonstrated.  

Cuvinte-cheie
filme subțiri semiconductoare, heterojoncţiune,

pulverizare aerosol, microscopie electronică de scanare, microscopie de forță atomică, structură cristalografică, fotodiodă