| Conţinutul numărului revistei |
| Articolul precedent |
| Articolul urmator |
 |
 609 5 |
| Ultima descărcare din IBN: 2023-04-18 17:42 |
| Căutarea după subiecte similare conform CZU |
| 621.38.049.77 (3) |
| Electrotehnică (1153) |
 SM ISO690:2012BĂJENESCU, Titu-Marius. Modelizarea defectelor circuitelor integrate analogice. In: Meridian Ingineresc, 2017, nr. 3, pp. 11-15. ISSN 1683-853X. |
| EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
| Meridian Ingineresc | ||||||
| Numărul 3 / 2017 / ISSN 1683-853X | ||||||
|
||||||
| CZU: 621.38.049.77 | ||||||
| Pag. 11-15 | ||||||
|
||||||
 Descarcă PDF |
||||||
|
|
|
|
