Изменение термоэлектрических свойств тонких нитей Bi1-xSbx (0≤x≤0.12) от диаметра
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
552 2
Ultima descărcare din IBN:
2020-12-08 10:57
SM ISO690:2012
ПОПОВ, Иван. Изменение термоэлектрических свойств тонких нитей Bi1-xSbx (0≤x≤0.12) от диаметра. In: Microelectronics and Computer Science, Ed. 9, 19-21 octombrie 2017, Chisinau. Chișinău, Republica Moldova: Universitatea Tehnică a Moldovei, 2017, Ediția 9, p. 506. ISBN 978-9975-4264-8-0.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Microelectronics and Computer Science
Ediția 9, 2017
Conferința "Microelectronics and Computer Science"
9, Chisinau, Moldova, 19-21 octombrie 2017

Изменение термоэлектрических свойств тонких нитей Bi1-xSbx (0≤x≤0.12) от диаметра


Pag. 506-506

Попов Иван
 
Институт Электронной Инженерии и Нанотехнологий имени Д. Гицу, АНМ
 
 
Disponibil în IBN: 1 noiembrie 2017