Немонотонность вольт-фарадных характеристик структур металл-стекло-полупроводник
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
625 0
SM ISO690:2012
ВЛАСОВ, С., НАСИРОВ, А., МАМАТКАРИМОВ, О., ЭРГАШЕВА, М.. Немонотонность вольт-фарадных характеристик структур металл-стекло-полупроводник . In: Электронная обработка материалов, 2008, nr. 3(44), pp. 99-101. ISSN 0013-5739.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Электронная обработка материалов
Numărul 3(44) / 2008 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718

Немонотонность вольт-фарадных характеристик структур металл-стекло-полупроводник

Pag. 99-101

Власов С., Насиров А., Маматкаримов О., Эргашева М.
 
Национальный университет Узбекистана имени Мирзо Улугбека
 
 
Disponibil în IBN: 15 aprilie 2017


Rezumat

The nature of not monotony high-frequency volt-farad characteristics of the structures metal-glasssemiconductor is investigated. It is shown that the not monotonous change of capacity of the metal-glasssemiconductor at inverse voltage can be caused by presence of structural defect acseptors character in glass, in a layer adjoining to the separating border of the glass-semiconductor.