Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe2
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
712 0
SM ISO690:2012
MAMEDOV, G., ГОДЖАЕВ, Эльдар, МАГЕРРАМОВ, Ариф, ЗЕЙНАЛОВ, Ш.. Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe2. In: Электронная обработка материалов, 2011, nr. 6(47), pp. 94-98. ISSN 0013-5739.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Электронная обработка материалов
Numărul 6(47) / 2011 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718

Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe2

Pag. 94-98

Mamedov G.1, Годжаев Эльдар1, Магеррамов Ариф2, Зейналов Ш.1
 
1 Азербайджанский технический университет,
2 Институт радиационных проблем НАН Азербайджана
 
Disponibil în IBN: 23 martie 2017


Rezumat

The technology of reception, research of a relief of a surface by the atom-power microscope method and studying of dielectric properties of PHD х vol.% TlGaSe2 (composites and PHD x vol.% TlGaSe2 (х = 0; 0.01; 0.05; 0.10) are studied in the suggested work.

Cerif XML Export

<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<CERIF xmlns='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1' xsi:schemaLocation='urn:xmlns:org:eurocris:cerif-1.5-1 http://www.eurocris.org/Uploads/Web%20pages/CERIF-1.5/CERIF_1.5_1.xsd' xmlns:xsi='http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance' release='1.5' date='2012-10-07' sourceDatabase='Output Profile'>
<cfResPubl>
<cfResPublId>ibn-ResPubl-51048</cfResPublId>
<cfResPublDate>2011-12-22</cfResPublDate>
<cfVol>47</cfVol>
<cfIssue>6</cfIssue>
<cfStartPage>94</cfStartPage>
<cfISSN>0013-5739</cfISSN>
<cfURI>https://ibn.idsi.md/ro/vizualizare_articol/51048</cfURI>
<cfTitle cfLangCode='RU' cfTrans='o'>Исследования рельефа поверхности атомно-силовым методом и диэлектрических свойств композиций полиэтилена высокой плотности и добавок TlGaSe2</cfTitle>
<cfAbstr cfLangCode='EN' cfTrans='o'>The technology of reception, research of a relief of a surface by the atom-power microscope method and studying of dielectric properties of PHD х vol.% TlGaSe2 (composites and PHD x vol.% TlGaSe2 (х = 0; 0.01; 0.05; 0.10) are studied in the suggested work. </cfAbstr>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>eda2d9e9-34c5-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>759af938-34ae-11e1-b86c-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfResPubl_Class>
<cfClassId>e601872f-4b7e-4d88-929f-7df027b226c9</cfClassId>
<cfClassSchemeId>40e90e2f-446d-460a-98e5-5dce57550c48</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfResPubl_Class>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-34661</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-40279</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-39217</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
<cfPers_ResPubl>
<cfPersId>ibn-person-34662</cfPersId>
<cfClassId>49815870-1cfe-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassId>
<cfClassSchemeId>b7135ad0-1d00-11e1-8bc2-0800200c9a66</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
</cfPers_ResPubl>
</cfResPubl>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-34661</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-34661-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Mamedov</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>G.</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-40279</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-40279-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Годжаев</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>Эльдар</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-39217</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-39217-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Магеррамов</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>Ариф</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
<cfPers>
<cfPersId>ibn-Pers-34662</cfPersId>
<cfPersName_Pers>
<cfPersNameId>ibn-PersName-34662-1</cfPersNameId>
<cfClassId>55f90543-d631-42eb-8d47-d8d9266cbb26</cfClassId>
<cfClassSchemeId>7375609d-cfa6-45ce-a803-75de69abe21f</cfClassSchemeId>
<cfStartDate>2011-12-22T24:00:00</cfStartDate>
<cfFamilyNames>Зейналов</cfFamilyNames>
<cfFirstNames>Ш.</cfFirstNames>
</cfPersName_Pers>
</cfPers>
</CERIF>