Методика получения тонкопленочных структур системы AS-Se-S на протяженные гибкие основы и исследованиe их электрофизических и оптических свойств
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
754 4
Ultima descărcare din IBN:
2018-12-26 08:48
Căutarea după subiecte
similare conform CZU
535.34 (8)
Propagare. Reflecţie. Refracţie. Absorbţie. Emisie (99)
SM ISO690:2012
CHIRIŢA, Arcadii, PRILEPOV, Vladimir, КОРШАК, Олег, НАСЕДКИНА, Надежда, ЖИДКОВ, Юрий, ЧЁРНЫЙ, Алексей. Методика получения тонкопленочных структур системы AS-Se-S на протяженные гибкие основы и исследованиe их электрофизических и оптических свойств. In: Studia Universitatis Moldaviae (Seria Ştiinţe Exacte şi Economice), 2015, nr. 2(82), pp. 79-85. ISSN 1857-2073.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Studia Universitatis Moldaviae (Seria Ştiinţe Exacte şi Economice)
Numărul 2(82) / 2015 / ISSN 1857-2073 /ISSNe 2345-1033

Методика получения тонкопленочных структур системы AS-Se-S на протяженные гибкие основы и исследованиe их электрофизических и оптических свойств
CZU: 535.34

Pag. 79-85

Chiriţa Arcadii, Prilepov Vladimir, Коршак Олег, Наседкина Надежда, Жидков Юрий, Чёрный Алексей
 
Молдавский Государственный Университет
 
 
Disponibil în IBN: 13 noiembrie 2015


Rezumat

A method of thin films based on As-Se-S structures obtaining was proposed. Electro-physical and optical properties of obtained structures were investigated.

A fost elaborată tehnologia de obţinere a structurilor pe baza peliculelor subţiri din semiconductori As-Se-S şi cercetate proprietăţile electrofizice şi optice ale structurilor obţinute.

Cuvinte-cheie
chalcogenic glassy semiconductors, registration of optical information.