Исследование микрорельефа поверхности и диэлектрических свойств композиций ПП+TlIn0,98Ce0,02Se2
Închide
Conţinutul numărului revistei
Articolul precedent
Articolul urmator
732 0
SM ISO690:2012
ГОДЖАЕВ, Эльдар, САФАРОВА, С., CAFAROVA, D., ГЮЛЬМАМЕДОВ, К., AHMEDOVA, H.. Исследование микрорельефа поверхности и диэлектрических свойств композиций ПП+TlIn0,98Ce0,02Se2. In: Электронная обработка материалов, 2013, nr. 4(49), pp. 1-5. ISSN 0013-5739.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Электронная обработка материалов
Numărul 4(49) / 2013 / ISSN 0013-5739 /ISSNe 2345-1718

Исследование микрорельефа поверхности и диэлектрических свойств композиций ПП+TlIn0,98Ce0,02Se2

Pag. 1-5

Годжаев Эльдар, Сафарова С., Гюльмамедов К., Cafarova D., Ahmedova H.
 
Азербайджанский технический университет
 
 
Disponibil în IBN: 28 februarie 2014


Rezumat

Изложены результаты исследования микрорельефа поверхности и температурных зависимостей диэлектрической проницаемости и диэлектрической потери композиционных материалов ПП TlIn0,98Ce0,02Se2.

The paper deals with the results of the investigation of surface microrelief and temperature dependences of dielectric permeability and dielectric loss of composite materials PP TlIn0,98Ce0,02Se2.

Cuvinte-cheie
ПП+TlIn0, 98Ce0, 02Se2, зондовая микроскопия, кластеры