Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
326 360
Ultima descărcare din IBN:
2024-01-06 20:13
SM ISO690:2012
СЕРЖЕНТУ, Владимир. Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями. In: Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»: (МССЭ-2020), 14-16 octombrie 2020, Minsk. Minsk, Belorusia : Белорусский государственный университет, 2020, Ediția a 9-a, pp. 463-467. ISBN 978-985-881-073-3.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»
Ediția a 9-a, 2020
Conferința "Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»"
Minsk, Belarus, 14-16 octombrie 2020

Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями

Asymptotic method for calculating the scattering indicatrix on extremely large surface roughness


Pag. 463-467

Серженту Владимир
 
Технический Университет Молдовы
 
Disponibil în IBN: 13 ianuarie 2022


Rezumat

Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние.

A method of evaluation the scattering indicatrix on the superconductor surface with extremely large surface roughness is considered. Roughness are described by a Gaussian distribution function for surface slopes. It is shown that with an increase in the root mean square value of the slopes the scattering indicatrix changes from diffuse to Lampert distribution. The transition is of a threshold nature. There is little retroreflection near the threshold.

Cuvinte-cheie
обратное рассеяние, индикатриса рассеяния, поверхностные неровности, асимптотический метод,

retroreflection, Scattering indicatrix, surface roughness, asymptotic method