Articolul precedent |
Articolul urmator |
326 360 |
Ultima descărcare din IBN: 2024-01-06 20:13 |
SM ISO690:2012 СЕРЖЕНТУ, Владимир. Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями. In: Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»: (МССЭ-2020), 14-16 octombrie 2020, Minsk. Minsk, Belorusia : Белорусский государственный университет, 2020, Ediția a 9-a, pp. 463-467. ISBN 978-985-881-073-3. |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники» Ediția a 9-a, 2020 |
|||||
Conferința "Международная научная конференция «Материалы и структуры современной электроники»" Minsk, Belarus, 14-16 octombrie 2020 | |||||
|
|||||
Pag. 463-467 | |||||
|
|||||
Descarcă PDF | |||||
Rezumat | |||||
Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние. |
|||||
Cuvinte-cheie обратное рассеяние, индикатриса рассеяния, поверхностные неровности, асимптотический метод, retroreflection, Scattering indicatrix, surface roughness, asymptotic method |
|||||
|