Articolul precedent |
Articolul urmator |
436 6 |
Ultima descărcare din IBN: 2023-10-04 20:26 |
SM ISO690:2012 MÎRZAC, Alexandra. Analiza structurală prin difracţie de raze X şi studiul proprietăţilor optice ale straturilor subţiri de ZnTe. In: Analele Ştiinţifice ale Universităţii de Stat din Moldova: . Științe ale naturii și exacte, 21 august 2013, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: Universitatea de Stat din Moldova, 2013, SNE, pp. 81-84. |
EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
Analele Ştiinţifice ale Universităţii de Stat din Moldova SNE, 2013 |
|||||
Conferința "Analele ştiinţifice ale USM. Științe ale naturii și exacte" Chișinău, Moldova, 21 august 2013 | |||||
|
|||||
Pag. 81-84 | |||||
|
|||||
Descarcă PDF | |||||
Rezumat | |||||
Structural and optical properties of ZnTe thin films fabricated by close space sublimation method with different thicknesses are investigated. It was evidenced a relatively small variation of the lattice parameter with increasing the thickness of the layers, starting from the value of 6.1052 Å (0.83 μm) to 6.1047 Å (2.59 μm). With the varying of the thickness the value of the band gap is changed from 2.237 eV up to 2. 243 eV. The photovoltaic devices ZnSe/ZnTe with efficiency of 1.69 % was obtained. |
|||||
|