Analiza structurală prin difracţie de raze X şi studiul proprietăţilor optice ale straturilor subţiri de ZnTe
Închide
Articolul precedent
Articolul urmator
436 6
Ultima descărcare din IBN:
2023-10-04 20:26
SM ISO690:2012
MÎRZAC, Alexandra. Analiza structurală prin difracţie de raze X şi studiul proprietăţilor optice ale straturilor subţiri de ZnTe. In: Analele Ştiinţifice ale Universităţii de Stat din Moldova: . Științe ale naturii și exacte, 21 august 2013, Chișinău. Chișinău, Republica Moldova: Universitatea de Stat din Moldova, 2013, SNE, pp. 81-84.
EXPORT metadate:
Google Scholar
Crossref
CERIF

DataCite
Dublin Core
Analele Ştiinţifice ale Universităţii de Stat din Moldova
SNE, 2013
Conferința "Analele ştiinţifice ale USM. Științe ale naturii și exacte"
Chișinău, Moldova, 21 august 2013

Analiza structurală prin difracţie de raze X şi studiul proprietăţilor optice ale straturilor subţiri de ZnTe


Pag. 81-84

Mîrzac Alexandra
 
Universitatea de Stat din Moldova
 
Disponibil în IBN: 12 mai 2020


Rezumat

Structural and optical properties of ZnTe thin films fabricated by close space sublimation method with different thicknesses are investigated. It was evidenced a relatively small variation of the lattice parameter with increasing the thickness of the layers, starting from the value of 6.1052 Å (0.83 μm) to 6.1047 Å (2.59 μm). With the varying of the thickness the value of the band gap is changed from 2.237 eV up to 2. 243 eV. The photovoltaic devices ZnSe/ZnTe with efficiency of 1.69 % was obtained.