| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Y | Z |
Masa rotundă "9th IEEE International Workshop on Metrology for AeroSpace, MetroAeroSpace 2022",
Pisa, Italia, 27-29 iunie 2022
Organizatori: University of Naples Federico II
Cuvinte-cheie (4): PM-pollution (1), Atomic Force Microscopy (AFM) (1), environmental monitoring (1)
IEEE International Workshop on Metrology for AeroSpace, MetroAeroSpace
Volum, serie, parte, nr: Ediția a 9-a
Locul publicării: New Jersey, SUA
Editura: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Anul publicării: 2022
Numărul de pagini: 200
ISBN: 978-166541076-2
Domenii științifice:
Materiale ale altor ediții disponibile în IBN
1
Disponibil în IBN: 30 septembrie 2022
Vizualizări
487Descărcări
1
Sortare publicaţii
An:
Domeniu ştiinţific: Tehnică (3)Ştiinţe fizico-matematice (2)
