| Articolul precedent |
| Articolul urmator |
 |
 279 1 |
| Ultima descărcare din IBN: 2023-07-24 13:07 |
| Căutarea după subiecte similare conform CZU |
| 539.25+621.386 (1) |
| Properties and structure of molecular systems (224) |
| Electrical engineering (1153) |
 SM ISO690:2012GHILEȚCHII, Gheorghe. Analiza straturilor subțiri semiconductoare utilizând metoda GI-XRD. In: Sesiune națională cu participare internațională de comunicări științifice studențești: dedicate aniversării a 75-a a USM, Ed. 25, 22-23 aprilie 2021, Chişinău. Chişinău: Centrul Editorial-Poligrafic al USM, 2021, Ediția 25, Vol.1, pp. 71-74. ISBN 978-9975-152-94-5.. |
| EXPORT metadate: Google Scholar Crossref CERIF DataCite Dublin Core |
| Sesiune națională cu participare internațională de comunicări științifice studențești Ediția 25, Vol.1, 2021 |
||||||
|
Sesiunea "Sesiunea naţională cu participare internaţională de comunicări ştiinţifice studenţeşti dedicată aniversării a 75-a a USM" 25, Chişinău, Moldova, 22-23 aprilie 2021 | ||||||
|
||||||
| CZU: 539.25+621.386 | ||||||
| Pag. 71-74 | ||||||
|
||||||
 Descarcă PDF |
||||||
|
|
|
|
