| A | B | C | D | E | F | G | H | I | J | K | L | M | N | O | P | Q | R | S | T | U | V | W | X | Z |
| З | С | Э |
Despre revistă          | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Domenii de acreditare | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Domenii ştiinţifice | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Anul fondării 1983 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Tirajul revistei | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Vizibilitate internațională | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Caracteristica articolelor | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Limba de publicare | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Vizibilitatea autorilor | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Numărul curent
|
2016 (1 din 16)
 eISSN: 0167-9317 |   Microelectronic Engineering |
| Factor de impact CiteScore 2022 - 5.5 | |
| Factor de impact SJR 2022 - 0.467 | |
| Factor de impact SNIP 2022 - 0.859 | |
În ajutorul Colegiului de redacție în procedura de evaluare a revistei.
Notă: Descărcați formularele și completați cu datele lipsă.
Disponibil în IBN pentru perioada:
2000 - 2016| Înregistrate | Accesate | Descărcate | DOI | |
| Articole cu H-index RM, Scopus | 1 | 179 | 0 | 1 |
| Articole | 4 | 1251 | 0 | 4 |
| Volume | 3 | 860 | 15 | |
| Total | 7 | 2111 | 15 |
|
|
|
